உருவ மூடி

A scanning electron microscopy investigation of semiconductor metal chalcogenide thin films: A review

Nowadays, scanning electron microscopy is a valuable tool that could be applied in a number of applications including forensic sciences, metallurgy and nanotechnologies. In view of researchers, it provides a better overall visual image of the sample and makes the quick resolution of tough analytic...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்: Ho, Soon Min
வடிவம்: கட்டுரை
மொழி:English
வெளியீடப்பட்டது: Scholars Research Library 2016
பகுதிகள்:
TA Engineering (General). Civil engineering (General)
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.intimal.edu.my/480/
http://eprints.intimal.edu.my/480/
http://eprints.intimal.edu.my/480/1/A%20scanning%20electron%20microscopy%20investigation%20of%20semiconductor%20metal%20chalcogenide%20thin%20films_a%20review.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!
இந்த கருத்தை முதலில் விட்டுச்செல்லுங்கள்!
நீங்கள் முதலில் உள்நுழைந்திருக்க வேண்டும்

இதே போன்ற பொருட்கள்