உருவ மூடி

Logic integrated circuit(IC) functional tester

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்: Goh, Siang Wei
வடிவம்: Final Year Project / Dissertation / Thesis
வெளியீடப்பட்டது: 2011
பகுதிகள்:
TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.utar.edu.my/89/
http://eprints.utar.edu.my/89/1/EE%2D2011%2D0706544%2D1.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!

இணையம்

http://eprints.utar.edu.my/89/
http://eprints.utar.edu.my/89/1/EE%2D2011%2D0706544%2D1.pdf

இதே போன்ற பொருட்கள்