உருவ மூடி

Cost-Efficient Fault-Tolerant Decoder for Hybrid Nanoelectronic Memories

Existing work on fault tolerance in hybrid nanoelectronic memories (hybrid memories) assumes that faults only occur in the memory array and the encoder, not in the decoder. However, as the decoder is structured using scaled CMOS devices, it is also becoming vulnerable to faults. This paper present...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Haron, Nor Zaidi, Hamdioui, Said
வடிவம்: Conference or Workshop Item
வெளியீடப்பட்டது: 2011
பகுதிகள்:
TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.utem.edu.my/4531/
http://eprints.utem.edu.my/4531/1/NZBHaron_DATE11.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!
இந்த கருத்தை முதலில் விட்டுச்செல்லுங்கள்!
நீங்கள் முதலில் உள்நுழைந்திருக்க வேண்டும்

இதே போன்ற பொருட்கள்