உருவ மூடி

Improved accuracy of GTEM Cell/SAC-correlated measurement of IC-radiated electric fields by a correction factor

Gigahertz Transverse Electromagnetic (GTEM) cell has been a popular test facility for evaluating integrated circuit (IC)- radiated emission. Since it is single-port test device, GTEM measurement cannot distinguish electric field component from magnetic field component. Rather, both fields are captur...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Chua, King Lee, Mohamed Jenu, Mohammad Zarar
வடிவம்: Conference or Workshop Item
வெளியீடப்பட்டது: 2015
பகுதிகள்:
TK7800-8360 Electronics
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.uthm.edu.my/7153/
http://eprints.uthm.edu.my/7153/1/IC3E_2015_submission_020.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!
இந்த கருத்தை முதலில் விட்டுச்செல்லுங்கள்!
நீங்கள் முதலில் உள்நுழைந்திருக்க வேண்டும்

இதே போன்ற பொருட்கள்