உருவ மூடி

An extended class of acyclically testable circuits

This paper introduces a new class of sequential circuits called acyclically testable sequential circuits which is wider than the class of acyclic sequential circuits but whose test generation complexity is equivalent to that of the acyclic sequential circuits. We also present a test generation proce...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Oka, Nobuyo, Chia, Yee Ooi, Ichihara, Hideyuki, Inoue, Tomoo, Fujiwara, Hideo
வடிவம்: Conference or Workshop Item
வெளியீடப்பட்டது: 2007
பகுதிகள்:
TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.utm.my/13732/
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!
இந்த கருத்தை முதலில் விட்டுச்செல்லுங்கள்!
நீங்கள் முதலில் உள்நுழைந்திருக்க வேண்டும்

இதே போன்ற பொருட்கள்