உருவ மூடி

Electrical conductivity measurements in evaporated tin sulphide thin films

Tin sulphide (SnS) has been evaporated on to substrates maintained at fixed temperature in the range 50-300 oC. X-ray diffraction measurements have shown that the films deposited at the lower substrate temperatures are non-stoichiometric, containing higher sulphides of tin, but that those deposited...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Deraman, Karim, Sakrani, Samsudi, Ismail, B. B., Wahab, Yusof, Gould, R. D.
வடிவம்: கட்டுரை
மொழி:English
வெளியீடப்பட்டது: Taylor & Francis 1994
பகுதிகள்:
QC Physics
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.utm.my/2620/
http://eprints.utm.my/2620/1/international_jurnal_of_electronic.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!
இந்த கருத்தை முதலில் விட்டுச்செல்லுங்கள்!
நீங்கள் முதலில் உள்நுழைந்திருக்க வேண்டும்

இதே போன்ற பொருட்கள்