Surface morphology and lateral distribution of self-assembled in0.5Ga0.5AS nanostructures grown on gaAs (100) substrate

This paper investigates the size, density and uniformity of double layer In0.5Ga0.5As nanostructures as a function of GaAs buffer layer thickness. Observation of surface morphology by atomic force microscopy (AFM) and field emission scanning electron microscopy (FESEM) shows that the dots formation...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Aryanto, Didik, Ismail, Abd. Khamim, Roslan, Shahrizar, Othaman, Zulkafli
வடிவம்: Book Section
மொழி:English
வெளியீடப்பட்டது: Penerbit UTM 2008
பகுதிகள்:
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.utm.my/27734/
http://eprints.utm.my/27734/
http://eprints.utm.my/27734/1/AbdKhamimIsmail2008_SurfaceMorphologyandLateralDistributionofSelf.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!