உருவ மூடி

Quantitative defect characterization for passive thermography application

This article proposes a new method for characterizing subsurface defects in high temperature wall by means of passive thermography. The method enables a fast and reliable quantitative defect characterization. Ten informative parameters have been proposed for this purpose based on temperature behavio...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Heriansyah, Rudi, Syed Abu Bakar, Syed Abdul Rahman, Nahhas, Ahmed Muhammad
வடிவம்: கட்டுரை
வெளியீடப்பட்டது: Taylor and Francis Ltd. 2015
பகுதிகள்:
TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.utm.my/55156/
http://eprints.utm.my/55156/
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!
இந்த கருத்தை முதலில் விட்டுச்செல்லுங்கள்!
நீங்கள் முதலில் உள்நுழைந்திருக்க வேண்டும்

இதே போன்ற பொருட்கள்