உருவ மூடி

X-ray diffraction study of evaporated cadmium telluride thin films

X-ray diffraction measurement was performed on evaporated CdTe thin films indicating a preferential orientation in (111) direction. The effect of the deposition rate, thickness and substrate temperature was investigated and the film quality was discussed. It was found that as the deposition rate was...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Ismail, Bakar, Deraman, Karim, Woon, H. Y.
வடிவம்: கட்டுரை
மொழி:English
வெளியீடப்பட்டது: Faculty of Science 2009
பகுதிகள்:
QC Physics
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.utm.my/744/
http://eprints.utm.my/744/1/BBIsmailDeraman2009_XRayDiffractionStudyofEvaporated.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!

இணையம்

http://eprints.utm.my/744/
http://eprints.utm.my/744/1/BBIsmailDeraman2009_XRayDiffractionStudyofEvaporated.pdf

இதே போன்ற பொருட்கள்