உருவ மூடி

Artificial neural network based hysteresis compensation for piezoelectric tube scanner in atomic force microscopy

Piezoelectric tube scanner is a major component that used in nanoscale imaging tools such as atomic force microscopy (AFM). This is because it can provide precise nanoscale positioning. However the precision is limited by vibration and some nonlinear drawbacks represented by creep and hysteresis. Hy...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Othman, Yahya Sheriff, Mahmood, Iskandar Al-Thani, Alang Md Rashid, Nahrul Khair, Darsivan, Fadly Jashi
வடிவம்: Conference or Workshop Item
மொழி:English
வெளியீடப்பட்டது: 2012
பகுதிகள்:
TJ212 Control engineering
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://irep.iium.edu.my/32299/
http://irep.iium.edu.my/32299/
http://irep.iium.edu.my/32299/1/Artificial_Neural_Network_Based_Hysteresis_Compensation_for_Piezoelectric_Tube_Scanner_in_Atomic_Force_Microscopy.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!

இணையம்

http://irep.iium.edu.my/32299/
http://irep.iium.edu.my/32299/
http://irep.iium.edu.my/32299/1/Artificial_Neural_Network_Based_Hysteresis_Compensation_for_Piezoelectric_Tube_Scanner_in_Atomic_Force_Microscopy.pdf

இதே போன்ற பொருட்கள்