உருவ மூடி

Characterization of nickel lead sulphide thin films: X-Ray diffraction studies

In this work, nickel lead sulphide thin films were grown by inexpensive and simple method, namely chemical bath deposition technique. Nickel sulphate, sodium thiosulfate and lead nitrate as the sources of Ni2+, S2- and Pb2+ ions, respectively. The effect of deposition period will be studied from 8...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்: Ho, Soon Min
வடிவம்: கட்டுரை
மொழி:English
வெளியீடப்பட்டது: Asian Research Publishing Network 2017
பகுதிகள்:
TA Engineering (General). Civil engineering (General)
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.intimal.edu.my/958/
http://eprints.intimal.edu.my/958/1/Characterization%20of%20nickel%20lead%20sulphide%20thin%20films%20X-Ray%20diffraction%20studies.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!

இதே போன்ற பொருட்கள்