Physical properties of cuprous oxide thin films grown on n-Si substrate by Sol-Gel spin coating

Cu2O films were grown on n-Si substrates via the sol-gel spin-coating method. The films were annealed under 5% H2 + 95% N2 atmosphere at 350°C, 450°C and 550°C. Diffractogram obtained by the grazing angle x-ray diffractometry showed that the crystallinity of the films increased with increasing anne...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: D.S. Che Halin,, I.A. Talib,, A.R. Daud,, M.A.A. Hamid,
வடிவம்: கட்டுரை
மொழி:English
வெளியீடப்பட்டது: Universiti Kebangsaan Malaysia 2009
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://journalarticle.ukm.my/67/
http://journalarticle.ukm.my/67/
http://journalarticle.ukm.my/67/1/
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!