Optical constants and electronic transition in hydrogenated silicon (Si: H) hin films deposited by Layer-by-Layer (LBL) deposition technique

Optical constants derived from optical transmission (T) and reflectance (R) spectra in the wavelength range of 220 to 2200 nm are presented in this paper for hydrogenated silicon (Si: H) thin films deposited by plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD) using the layer-by-layer (LBL) depositi...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Tong, G.B., Muhamad, M.R., Rahman, S.A.
வடிவம்: கட்டுரை
வெளியீடப்பட்டது: 2011
பகுதிகள்:
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.um.edu.my/7367/
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!