உருவ மூடி

Thermal Cyclic Test For Sn-4Ag-0.5Cu Solders On High P Ni/Au AND Ni/Pd/Au Surface Finishes

In electronic packaging, the reliability of the interconnection changes with the surface finish and the type of solders being used. Thermal cycling is one method of reliability assessment. In thermal cycling experiments, the strain state is simplified by soldering together regular shaped pieces of m...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Azmah Hanim, Mohamad Ariff, Ourdjini, Ali, Siti Rabiatull Aisha, Idris, Saliza Azlina, Osman
வடிவம்: Conference or Workshop Item
வெளியீடப்பட்டது: 2015
பகுதிகள்:
TJ Mechanical engineering and machinery
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.uthm.edu.my/7233/
http://eprints.uthm.edu.my/7233/
http://umpir.ump.edu.my/11780/1/Thermal%20Cyclic%20Test%20For%20Sn-4Ag-0.5Cu%20Solders%20On%20High%20P%20Ni-Au%20AND%20Ni-Pd-Au%20Surface%20Finishes.pdf
http://umpir.ump.edu.my/11780/7/Thermal%20Cyclic%20Test%20For%20Sn-4Ag-0.5Cu%20Solders%20On%20High%20P%20Ni-Au%20AND%20Ni-Pd-Au%20Surface%20Finishes-abstract.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!
இந்த கருத்தை முதலில் விட்டுச்செல்லுங்கள்!
நீங்கள் முதலில் உள்நுழைந்திருக்க வேண்டும்

இதே போன்ற பொருட்கள்