Penentuan Struktur Permukaan dengan Menggunakan Kaedah Kapasitans

This work describes a method to obtain surface microtopography of a material by scanning its capacitance. Capacitance was measured by the three terminal method with the core of a coaxial cable used as the measuring probe while the shielding wire acted as the guard electrode to eliminate the fringin...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Wan Yusof, Wan Mohamad Daud, Talib, Zainal Abidin, Ismail, Mohd Zaid
வடிவம்: கட்டுரை
மொழி:English
Malay
வெளியீடப்பட்டது: Universiti Putra Malaysia Press 1999
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://psasir.upm.edu.my/3490/
http://psasir.upm.edu.my/3490/1/Penentuan_Struktur_Permukaan_dengan_Menggunakan.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!