உருவ மூடி

Resistivity measurement of ZnO:AI films for solar cell

Aluminium doped Zinc Oxide films were deposited on glass slide by RF magnetron sputtering using a ZnO target mixed with A120J. All the films were growth in room temperature without intentional heating. The resistivity of the ZnO:AI films were measured using van der Pauw method in terms of the prepar...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Tan, Hang Khume, Md. Yusuf, Mohd. Nor, Ismail, Bakar, Wahab, Yussof, Othaman, Zulkafli
வடிவம்: Conference or Workshop Item
மொழி:English
வெளியீடப்பட்டது: 2006
பகுதிகள்:
QC Physics
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.utm.my/9302/
http://eprints.utm.my/9302/1/TanHangKhume2006_ResistivityMeasurementofZnO.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!

இணையம்

http://eprints.utm.my/9302/
http://eprints.utm.my/9302/1/TanHangKhume2006_ResistivityMeasurementofZnO.pdf

இதே போன்ற பொருட்கள்