உருவ மூடி

Simple calibration and dielectric measurement technique for thin material using coaxial probe

This paper focuses on the nondestructive dielectric measurement for thin dielectric material using open-ended coaxial probe. The probe calibration procedure requires only a measurement of a half-space air and three open standard kits. The measured reflection coefficient for thin sample, which is bac...

முழு விளக்கம்

Saved in:
நூற்பட்டியல் விவரங்கள்
தலைமை எழுத்தாளர்கள்: Kok, Yeow You, Yi, Lung Then
வடிவம்: கட்டுரை
மொழி:English
வெளியீடப்பட்டது: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. 2015
பகுதிகள்:
TK6570 Mobile Communication System
நிகழ்நிலை அணுகல்:http://eprints.utm.my/55980/
http://eprints.utm.my/55980/
http://eprints.utm.my/55980/
http://eprints.utm.my/55980/1/KokYeowYou2015_SimpleCalibrationandDielectricMeasurementTechnique.pdf
குறியீடுகள்: குறிச்சொல் இணை
குறியீடுகள் இல்லை, இந்த குறிச்சொல்லை முதலில் பதிவு செய்யுங்கள்!
இந்த கருத்தை முதலில் விட்டுச்செல்லுங்கள்!
நீங்கள் முதலில் உள்நுழைந்திருக்க வேண்டும்

இதே போன்ற பொருட்கள்